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STMicroelectronics ha aggiunto due dispositivi in grado di generare tensioni di riferimento al proprio portafoglio di prodotti rad-hard per applicazioni aerospaziali. Il modello RHF1009A è un riferimento di tensione variabile in grado di fornire una tensione continua da 2,5 a 5,5 V mentre il modello RHF100 fornisce un riferimento fisso di 1,2 volt. Specificamente progettati per sostenere i livelli di radiazione presenti nello spazio e compatibili pin-to-pin con analoghi dispositivi standard per questo genere di applicazioni, questi riferimenti di tensione rispondono alle specifiche QML-V dall’Agenzia Spaziale Americana (DLA) e fanno parte dei dispositivi dell’European Preferred Parts List (EPPL), ovvero dei dispositivi adatti ad essere utilizzati dai produttori europei di hardware nei veicoli spaziali e nelle relative attrezzature.
Entrambi i dispositivi sono fabbricati con la tecnologia BiCMOS a 250 nm di ST, che si è dimostrata particolarmente valida sia in termini di volumi di produzione che di affidabilità nel tempo di una vasta gamma di prodotti consumer e di circuiti integrati per le sempre più richieste applicazioni in ambito aerospaziale, automotive e medicale, inclusi numerosi altri dispositivi resistenti alle radiazioni quali, ad esempio, i convertitori analogico digitali (ADC).
Le elevate prestazioni di questi dispositivi comprendono un coefficiente di temperatura di appena 5 ppm (tipico), con una precisione di ± 0,15% raggiunta mediante l’utilizzo di una taratura al laser, un accoppiamento di sezioni termicamente compatibili ed un’ampia gamma di corrente catodica (da 40μA a 12mA), prestazioni che garantiscono flessibilità, precisone e stabilità.
Queste caratteristiche si combinano con l’elevata resistenza alle radiazioni, sia per i valori di Total Ionization Dose (TID) che di Single Event Effect (SEE). I dispositivi risultano Enhanced Low Dose Rate Sensitivity (ELDRS) fino a 300krad (con i parametri chiave che rimangono costanti qualunque sia il tasso di dose fino ad un livello molto elevato), sono completamente immuni ai Single-Event Latch-up (con SEL fino a 120 MeV.cm2/mg a 125°C), e hanno una bassa probabilità di Single-Event Transient (con SET Cross section < 3.10-4), sempre con eventi di durata molto breve e limitata ampiezza. Un dettagliato rapporto di prova relativo al SET è disponibile su richiesta.
Progettati, qualificati, e prodotti in Europa, i dispositivi sono supportati da un set completo di macromodelli (PSpice, Eldo, ADS) e schede demo.
