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Anche l’Istituto Fraunhofer per la fisica delle alte frequenze e la tecnologia radar FHR con sede a Wachtberg, Germania, ha deciso di utilizzare il sistema di test per onde millimetriche a larga banda operante a 145 GHz basato sul dispositivo ME7838A di Anritsu per effettuare le misure necessarie allo sviluppo di nuovi componenti e apparecchiature operanti ad alta frequenza.
Il sistema è formato dalla combinazione tra l’analizzatore di reti vettoriale “VectorStar B” MS4647B e i moduli di misura a larga banda di Anritsu in grado di coprire l’intervallo di frequenza compreso tra 70 kHz e 145 GHz in un solo sweep sfruttando un nuovo tipo di connettore coassiale di dimensioni pari 0,8 mm. Un sistema di questo tipo è particolarmente adatto per la caratterizzazione mediante sondaggio sul wafer (wafer probe) delle tecnologie silicio-germanio (SiGe) sempre più ampiamente utilizzate nelle bande a frequenze più elevate (nel campo dei GHz) per i radar e le comunicazioni a larga banda wireless.
I moduli che compongono il sistema a larga banda ME7838A, piccoli e leggeri, possono essere direttamente collegati alla punta della sonda senza ricorrere a cavi coassiali aggiuntivi. Di conseguenza è possibile ottimizzare dinamica e sensibilità di misura. Tali moduli consentono inoltre di eseguire misure di rumore e di intermodulazione oltre il limite dei 100 GHz.
Il dipartimento “sensori a microonde e rada millimetrici” (MHS) utilizza il Sistema VNA per effettuare misure estremamente precise su transistor, mixer e altri componenti di nuova generazione realizzati in SiGe. L’eccezionale stabilità nel tempo e al variare della temperatura garantiscono la riproducibilità dei risultati delle misure eseguite nel corso dello sviluppo di questi nuovi componenti. Avanzate tecniche di calibrazione e de-embedding garantiscono un maggior grado di affidabilità rispetto a moduli di espansioni (VNA extender) alternativi offerti da terze pari al momento presenti sul mercato.
